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產(chǎn)品簡介
磁性材料測量儀/軟磁直測試系統(tǒng)/軟磁材料直測量裝置 型號：HGM2100SD簡單介紹HGM2100SD軟磁材料直測量裝置，自動測量軟磁材料在靜態(tài)（直）條件下的基本磁化曲線和磁滯回線，準確測量起始磁導率μi、大磁導率μm、飽和磁感應強度Bs、剩磁Br、矯頑力Hc和磁滯損耗Pu等靜態(tài)磁性參數(shù)。產(chǎn)品符合GB/T13012和IEC60404-4的規(guī)定。 軟磁直測試系統(tǒng) 的詳細介
產(chǎn)品分類
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磁性材料測量儀/軟磁直測試系統(tǒng)/軟磁材料直測量裝置 型號：HGM2100SD
磁性材料測量儀簡單介紹
軟磁直測試系統(tǒng) 的詳細介紹
HGM2100SD軟磁直測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹：
HGM2100SD軟磁直測試系統(tǒng)適用于測量各種鐵氧體、純鐵、硅鋼、坡莫合金、非晶和納米晶等軟磁材料的起始磁導率μi、大磁導率μm、飽和磁感應強度Bs、剩磁Br和矯頑力Hc等。依照沖擊法的測量原理，采用計算機控制和A/D、D/A相結合，以電子積分器取代傳統(tǒng)的沖擊檢計，實現(xiàn)微機控制下的模擬沖擊法測量，不僅可以消除經(jīng)典沖擊法中因使用沖擊檢計所帶來的非瞬時性誤差，而且測量度、速度快、重復性好、可消除各種人為因數(shù)的影響，為研究材料磁化過程機理提供可靠的依據(jù)。整個測試過程自動成,可繪制基本磁化曲線、磁導率曲線和磁滯回線，可打印多種格式的測試報告。
自動測量軟磁材料在靜態(tài)（直）條件下的基本磁化曲線和磁滯回線，準確測量起始磁導率μi、大磁導率μm、飽和磁感應強度Bs、剩磁Br、矯頑力Hc和磁滯損耗Pu等靜態(tài)磁性參數(shù)。
產(chǎn)品符合中家標準GB3657-83、SJ/T10281-91和際標準IEC60404-4的規(guī)定。依照沖擊法的測量原理，采用計算機控制和A/D、D/A相結合，以電子積分器取代傳統(tǒng)的沖擊檢計，實現(xiàn)微機控制下的模擬沖擊法測量，不僅可以消除經(jīng)典沖擊法中因使用沖擊檢計所帶來的非瞬時性誤差，而且測量度、速度快、重復性好、消除各種人為因數(shù)的影響，為研究材料磁化過程機理提供可靠依據(jù)。
HGM2100SD軟磁直測試系統(tǒng)產(chǎn)品標準配置
1、計算機：聯(lián)想品機。
2、測試軟件：運行于WIN9X/ME/NT/2K/XP等操作系統(tǒng)下，有數(shù)據(jù)庫能。
3、輸出設備：HP1020激光的打印機。
3、測試電源：輸出電壓：0～±50V，輸出電：0.01mA～10A共13個。量程穩(wěn)定度：優(yōu)于0.05%。
4、模擬積分器：0.25、0.5、1、2、5、10、20mWb，靈敏度：0.05μWb沖擊法，0.1μWb掃描法。
5、A/D D/A轉換：分辨率和線性度：12Bit±1/2LSB，轉換時間：<10μs。
6、標準樣品（3方檢驗報告）：般為坡莫合金1J50或純鐵、硅鋼，殊要求可選1J22材料。
HGM2100SD軟磁直測試系統(tǒng)產(chǎn)品標（對閉路樣品采用沖擊法行測試）
1、初始磁導率μi：準確度：5.0%，重復性±3.0%；
2、大磁導率um：準確度：2.0%，重復性±1.0%；
3、飽和磁感應強度Bs：準確度1.0%，重復性±0.5%；
4、剩磁Br：準確度1.0%，重復性±0.5%；
5、矯頑力Hc: 準確度1.0%，重復性±0.5%。
配置螺線管可用于測量弱磁材料磁導率和矯頑力Hc大于100A/m的軟磁開路樣品的測量
該裝置也適合用于測量弱磁材料的磁導率的測量，根據(jù)中華人民共和家軍用標準GJB 937-1990弱磁材料磁導率的測量方法，在產(chǎn)品配置中添加開路樣品測試螺線管和測試補償線圈，可以滿足相對磁導率1.0～4.0范圍內(nèi)的弱磁材料的磁導率測量（GJB 937-1990 標準見附件）。
1、螺線管：長度700mm，直徑：50mm。
2、螺線管磁場強度：32kA/m，磁場均勻區(qū)長度大于400mm。
3、配置測試補償線圈：匝比3000:3000，測試相對磁導率: 1.0～4.0的弱磁材料樣品，要求樣品直徑小于10mm，長度大于100mm，測試準確度優(yōu)于2.0%，測試重復性優(yōu)于±1.0%。
4、測試補償線圈：匝比100:100，測試矯頑力Hc大于100A/m的開路軟磁樣品，要求樣品直徑小于10mm，長度大于250mm，測量準確度優(yōu)于1.0%，測試重復性優(yōu)于±0.5%。
三、測試弱磁材料開路樣品相對磁導率，在場強Hs：32kA/m條件下測試材料的大磁導率um。
四、測試導磁材料開路樣品矯頑力，在場強Hs：32kA/m條件下測試材料的Hc。
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